TH513 | C–V анализатор полупроводников, VDS ±3000 В, 1 канал Techmize TH513 (Tonghui MR513)

Особенности

Архитектура всё-в-одном: LCR-метр + источник V_GS + источник V_DS + коммутатор + ПО

Напряжение затвор-исток (V_GS) 0...±40 В

Напряжение сток-исток (V_GS) 0...±3000 В

Частота сигнала 10 кГц...2 МГц

Три метода измерения: одиночный, по списку, построение полной ВФХ

Измерение и отображение четырех паразитических параметров одной кнопкой (Ciss, Coss, Crss, Rg или Cies, Coes, Cres, Rg)

Два канала (опция расширения до 4 или 6)

Построение вольт-фарадной кривой

Построение кривой зависимости входной ёмкости от сопротивления затвора

Ускорение тестирования благодаря функции быстрой зарядки конденсаторов

Функция проверки контактов

Проверка целостности (разрыв, короткое замыкание)

Автоматическая установка задержки

Продвинутая функция измерения Crss: решена проблема отрицательных значений при высоких частотах

Защита от высоковольтных пробоев и отскока напряжения на затворе

Защита оператора от непреднамеренной подачи высокого напряжения

Измерени и анализ ёмкости перехода диода в зависимости от приложенного напряжения

Возможность выбора последовательной или параллельной модели измерения ёмкости

10-уровневая сортировка

10,1-дюймовый ёмкостный сенсорный экран, разрешение 1280×800, ОС Linux

Области применения

Полупроводниковые компоненты/силовые компоненты Испытание паразитной емкости и анализ ВФХ диодов, триодов, MOSFET, IGBT, тиристоров, интегральных схем, оптоэлектронных микросхем и т. д.

Полупроводниковые материалы
Анализ ВФХ, разделение пластин на отдельные кристаллы (wafer dicing)

Жидкокристаллические материалы
Анализ постоянной упругости

Емкостные элементы
Испытание и анализ ВФХ конденсаторов, испытание и анализ ёмкостных датчиков

Скачать спецификацию